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熒光光譜：缺陷結(jié)構(gòu)與壽命
晶體的主要特征是其中原子的規(guī)則排列，但實(shí)際晶體中原子的排列總是或多或少地偏離了嚴(yán)格的周期性。晶體中的原子作微振動(dòng)時(shí)破壞了周期性，因而在晶體中傳播的電子波或光電波會(huì)受到散射，這就意味著晶體的電學(xué)性質(zhì)或光學(xué)性質(zhì)發(fā)生了變化。在熱起伏過(guò)程中，晶體的某些原子振動(dòng)劇烈，脫離了格點(diǎn)而跑到表面上，在內(nèi)部留下了空格點(diǎn)，即空位；或者那脫離格點(diǎn)的原子進(jìn)入了晶格中的間隙位置，形成間隙原子。另一方面，外來(lái)的雜質(zhì)原子進(jìn)入晶體后，可以處在間隙位置上，成為間隙式的雜質(zhì)，也可以占據(jù)空位而成為取代原子。這些在一個(gè)或幾個(gè)晶格常數(shù)的線度范圍內(nèi)引起晶格周期性的破壞，統(tǒng)稱為晶體中的點(diǎn)缺陷。晶體中的缺陷影響著晶體的力學(xué)、電學(xué)、熱學(xué)、光學(xué)等等方面的性質(zhì)。熒光光譜(Photoluminescence Spectroscopy) 是研究半導(dǎo)體納米材料的電子結(jié)構(gòu)和光學(xué)性能的有效方法，特別是對(duì)于一些缺陷的判斷，并且能獲得光生載流子的遷移、捕獲和復(fù)合等信息。
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